一站式测试服务方案(TURN KEY SOLUTION)
整合探针卡、载板、老化测试板等耗材，提供从设计、制造到测试的全流程服务，覆盖封装前后测试阶段，帮助客户解决测试流程碎片化问题。包括测试方案设计、硬件供应和维护支持，实现端到端管理。
IC老化测试板解决方案
针对半导体器件可靠性的老化测试方案，提供老化测试板(BIB)和设备，模拟长时间运行环境（温度范围-55℃至150℃，时间长达1000小时），以验证芯片寿命和故障率。
载板(LOAD BOARD)解决方案
提供定制化载板设计服务，用于连接自动测试设备(ATE)与待测芯片，实现高效信号路由、电源管理和数据采集。支持高频信号传输（最高达10GHz），优化测试效率并降低噪声干扰。
MEMS探针卡解决方案
利用自有MEMS技术开发的高精度探针卡系列，包括悬臂针探针卡、垂直探针卡和MEMS探针卡等，用于半导体晶圆级和封装后的电子测试。该方案提供微米级接触精度和稳定的信号传输接口，支持高频率和高密度测试需求。
融资次数
2
专利数量
1
经营范围
一般经营项目是：半导体产品、电子产品、通讯设备、金属材料和金属化合物材料、半导体设备、机电产品、光学电子产品、计算机软硬件、机械设备的研发与销售；半导体领域内的技术开发、技术转让、技术进出口、技术咨询及技术服务；国内贸易；货物及技术进出口（法律、行政法规、国务院决定规定在登记前须经批准的项目除外）。金属矿石销售；选矿。半导体分立器件制造；半导体器件专用设备制造；电子元器件制造；集成电路芯片及产品制造；电子专用材料制造；其他电子器件制造；电子元器件与机电组件设备制造。（除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动），许可经营项目是：无
主营业务
研发和提供半导体芯片检测技术产品及一站式测试解决方案，覆盖封装前后，专注于提升国内芯片检测市场。
深圳市弘测精密科技有限公司
有限责任公司
￥1,393万
2021-03-09
郑仁熹
0755-23400586
denis@hongceptech.com
深圳市光明区凤凰街道塘尾社区恒泰裕大厦1栋707