良率优化平台
该平台专注于制造良率的提升，结合数据挖掘、机器学习和可视化工具，实现工艺问题快速诊断和优化建议。功能模块包括数据采集、异常检测、根因分析和预测模型，支持自动化生成报告和决策支持。针对先进工艺节点（如28nm及以下），该平台帮助用户减少缺陷、提高成品率，并在实际生产线中验证了效益。
参数测试与管理系统
这是一个集成硬件和软件的解决方案，用于晶圆参数测量、数据分析和管理。系统支持实时采集和测试关键参数（如阈值电压、漏电流和电阻），并提供统计分析工具（包括良率预测和工艺控制）。应用范围覆盖超深亚微米生产线（180nm、130nm等），旨在提升生产精度、降低测试成本和优化工艺良率。系统已广泛部署于国内外主流晶圆厂。
智能测试芯片设计软件
该软件专为集成电路工艺监控和良率优化而设计，提供自动化工具支持测试结构的布局、生成和验证。核心功能包括快速生成测试芯片方案、仿真参数（如缺陷检测和电性参数）以及兼容多工艺节点（从180nm到28nm及以下），帮助客户加速研发周期、减少设计迭代时间和成本。实际应用在晶圆厂实现高效缺陷分析和工艺调试。
A股代码
301095.SZ
员工数量
100-499人
专利数量
183
经营范围
技术开发、技术服务、生产、批发、零售：集成电路、电子产品，半导体测试设备，计算机软、硬件；货物进出口（法律、行政法规禁止经营的项目除外，法律、行政法规限制经营的项目取得许可后方可经营）；其他无需报经审批的一切合法项目（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动）
主营业务
提供针对超深亚微米工艺的EDA软件开发和优化解决方案，服务国内外主流集成电路生产厂商以提高生产效率和良率。
杭州广立微电子股份有限公司
其他股份有限公司(上市)
￥2亿
2003-08-12
郑勇军
0571-88158086
slf@semitronix.com
浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座