晶圆电性参数测试系统 (WAT测试机)
浙江芯测专注于为芯片制造过程提供高性能晶圆电性参数测试设备（Wafer Acceptance Test）。该系统应用于集成电路（IC）制造中的晶圆电性参数测试环节，用于在晶圆切割封装前，对晶圆上大量测试结构进行高精度、高频、高并发的电气参数（如电阻、电容、阈值电压、漏电流等）测量，快速评估芯片制造工艺的稳定性和良率。其设备通过高度集成的精密仪器架构实现对各类半导体器件的全自动化高速参数提取。
融资次数
2
员工数量
100-499人
专利数量
6
经营范围
一般项目：集成电路制造；集成电路销售；集成电路芯片及产品制造；集成电路芯片及产品销售；集成电路设计；集成电路领域内的技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；普通货物仓储服务（不含危险化学品等需许可审批的项目）；机械设备租赁；计算机及通讯设备租赁；非居住房地产租赁(除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动)。许可项目：货物进出口；技术进出口(依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动，具体经营项目以审批结果为准)。
主营业务
集成电路的设计、制造、销售及相关芯片产品的一站式解决方案。
浙江芯测半导体有限公司
有限责任公司（非自然人投资或控股的法人独资）
2020-04-10
李志
junjie.yan@ovt.com
浙江省绍兴市越城区皋埠街道香积路92号