DF70缺陷光学检测设备
合肥市纳诺半导体有限公司自主研发的半导体晶圆制造前道量测设备，专为12英寸晶圆在7纳米制程下的缺陷检测设计。该设备采用先进光学技术，结合高精度自动化系统、精密机械组件和AI图像算法，用于识别晶圆表面的微观缺陷，如粒子、划痕和图案偏差。主要功能包括非接触式高速扫描、高分辨率成像（达到亚微米级精度），并能实时分析缺陷数据，以提高晶圆生产良率。其目标是为中国半导体制造提供国产化解决方案，突破国际公司在暗场缺陷检测市场的垄断，填补国内空白。
融资次数
3
员工数量
小于50人
专利数量
3
经营范围
一般项目：半导体器件专用设备制造；半导体器件专用设备销售；半导体分立器件制造；半导体分立器件销售；仪器仪表制造；仪器仪表销售；仪器仪表修理；软件开发；在线能源监测技术研发；在线能源计量技术研发；信息系统集成服务；电力电子元器件制造；电子元器件批发；电子元器件零售；电子专用设备制造；电子专用设备销售；通用设备修理；专用设备修理；技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广（除许可业务外，可自主依法经营法律法规非禁止或限制的项目）
主营业务
主营半导体12寸晶圆7nm缺陷光学检测设备的研发、生产与销售，并提供前道检测技术解决方案，助力中国半导体制造实现独立自主。
合肥市纳诺半导体有限公司
有限责任公司(外商投资、非独资)
￥1,448万
2021-07-15
ZHUJUN
13921073061
jun.zhu@semixchina.com
中国（安徽）自由贸易试验区合肥片区高新区望江西路900号中安创谷科技园一期A3A4栋6层628室