精密失效分析技术
该技术整合X射线无损成像、超声扫描和电性诊断，用于定位元件内部失效点，创新点在于采用多层图像重构算法，结合失效模式数据库，实现高效的根本原因分析和修复建议输出。
环境可靠性试验技术
该技术涵盖HAST（高加速应力测试）、老炼寿命测试和恒定加速度试验，通过可控环境仓模拟长期恶劣使用条件，创新点在于结合多应力叠加测试方法，如温度循环与湿度应力集成，能加速暴露潜在失效，量化产品寿命指标。
集成电路测试程序开发与适配技术
该技术基于高级测试平台如ADVAN93K，针对北斗导航、射频识别、微处理器等多元产品开发定制化测试程序，创新点在于采用模块化脚本库和动态适配算法，可快速为新设计产品生成高覆盖率测试方案，支持从低功耗到高速IC的全谱测试。
晶圆级三温自动测试技术
该技术使用三温自动分选机在低温、常温和高温环境下对6英寸至12英寸晶圆进行全自动化测试，模拟实际工作条件如-40°C至150°C范围，关键创新点在于集成温度控制和高速分选系统，支持连续批处理测试，可检测温度依赖性失效模式。
融资次数
1
员工数量
50-99人
专利数量
5
经营范围
一般项目：集成电路芯片及集成电路产品的封装和测试；集成电路技术开发应用、技术咨询、技术服务、技术转让；探针卡、测试板卡的设计、销售、维修；测试仪器及设备、通信仪器及设备制造、销售、租赁、维修；软件产品设计及销售；货物与技术的进出口业务。（以上范围国家法律、法规禁止经营的不得经营；国家法律、法规规定应经审批而未获审批前不得经营）* （除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动）
主营业务
为精密加工领域（高铁、航天、航空、3C、船舶、汽车、模具等）提供覆盖集成电路和电子元器件全生命周期的专业第三方检测、测试验证与失效分析服务，核心包括晶圆/成品/模块测试、测试程序开发及环境与可靠性试验。
国芯微（重庆）科技有限公司
有限责任公司(自然人投资或控股)
￥1,580万
2019-04-26
李瑞麟
023-65032300
重庆市沙坪坝区西永大道28号-2号SOHO楼601-A84