宽禁带半导体测试解决方案
提供覆盖SiC、GaN等宽禁带半导体材料器件从研发、制造（晶圆测试）到封装完成（成品测试）的全流程测试解决方案。
高精度源表单元
自主研发核心高精度四象限源表单元（SMU），具备fA级分辨率、pA级漏电测试能力、万伏千安级输出范围、高可靠性和多重保护机制，作为构建各类测试系统的基础模块。
实验室级半导体器件动静态测试系统
提供高精度实验室用的半导体器件动态与静态特性测试系统，满足研发和深度分析需求。
成品芯片测试系统
提供成品芯片最终测试（FT）系统，包括动态和静态测试能力，对封装后的芯片进行功能、性能及可靠性验证。
器件可靠性测试系统
提供晶圆级可靠性测试（WLR）系统，评估半导体器件在应力条件下的寿命和可靠性表现。
芯片探针测试系统
提供晶圆芯片探针测试（CP）系统，在划片封装前进行晶圆上裸芯片的电性能测试、功能测试和分类筛选（KGD解决方案）。
半导体器件参数测试系统
提供晶圆级参数测试（WAT）系统，用于测量半导体器件的电特性参数和工艺参数，评估制造工艺水平。
融资次数
1
员工数量
小于50人
专利数量
10
经营范围
一般项目：技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；半导体器件专用设备制造；半导体器件专用设备销售；电子测量仪器制造；电子测量仪器销售；电子专用设备制造；电子专用设备销售；电子元器件制造；电子元器件批发；电力电子元器件制造；电力电子元器件销售；机械设备研发；机械设备销售；试验机制造；试验机销售；电子产品销售；信息技术咨询服务；货物进出口（除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动）
主营业务
专注于宽禁带半导体检测领域，自主研发高精度源表单元（SMU）核心模块及系统架构，为半导体器件研发、制造、封测全流程提供参数测试（WAT）、晶圆探针测试（CP）、可靠性测试（WLR）、成品测试（FT）及实验室级动静态测试解决方案。
博测锐创半导体科技（苏州）有限公司
其他有限责任公司
￥2,333万
2022-04-06
邱宇峰
weicl@ponovo.cn
中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区29幢1、2层