智能缺陷识别算法
该技术应用基于卷积神经网络（CNN）和模式识别模型，通过大量数据训练实现半导体缺陷的智能判别。创新点在于其自适应能力，能够在复杂背景下精准定位缺陷位置并生成详细报告，减少人为干预需求。
高精度自动光学检测系统
维普光电核心技术基于其专有的高速高分辨率光学成像模块，结合亚微米级扫描机制实现半导体表面缺陷的精确检测。创新点在于采用深度学习和机器学习算法对图像数据实时处理，自动识别和分类微缺陷，如颗粒、划痕等，显著提升检测效率和质量控制水平。
员工数量
小于50人
专利数量
40
经营范围
光学检测设备、集成电路设备、自动化设备、工业机器人装备、电子元器件、计算机软硬件的研发、制造、销售、技术咨询、技术服务及系统集成；自营和代理各类商品和技术的进出口业务(国家限定企业经营或者禁止进出的商品和技术除外) 。（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动
主营业务
半导体光学检测设备的研发、开发和生产
江苏维普光电科技有限公司
有限责任公司(自然人投资或控股的法人独资)
￥1,131万
2016-03-31
蒋开
0519-85282098
sales@vptek.com
常州市新北区秦岭路6号3-4层