半导体老化测试系统
该系统面向半导体芯片的老化和可靠性测试，通过模拟高温、高湿和高电压环境，加速评估芯片的寿命和稳定性。它支持多通道并行测试、实时数据采集和故障分析，用于IC封装成品或晶圆阶段的加速老化试验，以确保产品长期可靠性。
LCD测试设备
用于TFT-LCD面板的终态制造测试，包括电气特性评估（如驱动电压、电流和响应速度）以及视觉缺陷检测（如坏点、线条缺失或颜色偏差）。设备集成了自动化装载系统、精密测量探针和图像处理算法，可进行高效的全面板扫描和质量判定，适用于工厂级生产环境。
AMOLED显示测试系统
该系统专注于AMOLED显示面板的测试需求，结合电气性能测试和光学成像模块，用于评估关键参数如亮度、色彩准确度（Delta E值）、响应时间、功耗和寿命特性。它支持自动化面板处理、多点测试和数据分析，确保满足高端显示器标准如智能手机和电视屏幕的要求。
Micro LED检测设备
该设备主要应用于Micro LED制造领域，采用自动光学成像和高分辨率相机技术，能够检测Micro LED晶片的微观缺陷（如点缺陷、线缺陷）、亮度均匀性和色彩一致性。支持高精度尺寸测量和快速缺陷分类，适用于大规模量产中的质量控制流程。
专利数量
145
经营范围
一般经营项目是：自动化检测技术、机器视觉技术、智能机器人技术的研发；电容触摸屏自动化检测设备、机电一体化生产设备、机器视觉相关产品、智能机器人相关产品的研发、销售；计算机软件的技术开发及销售、技术咨询；自动化相关模组和器件、自动化生产技术咨询；国内贸易，经营进出口业务（以上法律、行政法规、国务院决定禁止的项目除外，限制的项目须取得许可后方可经营）。，许可经营项目是：电容触摸屏自动化检测设备、机电一体化生产设备、机器视觉相关产品、智能机器人相关产品的生产。
主营业务
信息技术、物联网技术、大数据、云计算、人工智能技术的研发、技术服务与咨询，以及相关产品的销售
深圳精智达技术股份有限公司
其他股份有限公司(上市)
￥9,401万
2011-05-31
张滨
0755-21058357
oyxm@seichitech.com
深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东