芯片级分析服务
专注于半导体芯片的逆向工程和缺陷分析，使用先进工具如电镜和探针台进行微观层面故障定位和逆向构造拆解，用于知识产权验证、工艺缺陷检测和良率提升，服务于IC设计和封装产业。
可靠性测试服务
提供全面的环境应力测试和寿命加速测试，包括温度循环、湿热老化、高压加速老化等实验，评估产品在不同应力条件下的性能衰减和失效模式，生成可靠性报告，帮助客户提升产品耐久性和满足行业标准要求。
材料分析与表征服务
利用高级设备如扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、X射线能谱仪(EDS)、原子力显微镜(AFM)和X射线衍射仪(XRD)等，提供材料的表面、界面、微观结构和元素成分分析，用于材料失效研究、工艺优化和性能评估，支持包括半导体、新能源材料在内的多领域研发。
失效分析服务
该服务针对半导体器件、集成电路和电子元件进行系统化的失效原因诊断，涉及电特性测试、显微结构观察（如使用聚焦离子束显微镜FIB）、化学元素分析以及故障定位，帮助客户识别产品失效的根本原因并提供优化方案，以提高产品的可靠性和良率。
科创行业
融资次数
7
员工数量
100-499人
专利数量
82
经营范围
从事纳米材料及其产品、电子电气产品、电子元器件、化工产品、日用消耗品、生物样品、金属材料、半导体材料的检测与分析，并提供相关技术服务及技术咨询；从事检测技术进出口和检测仪器设备进出口业务。（依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动）一般项目：技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广（除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动）
主营业务
提供一站式材料分析和失效分析服务及解决方案，通过先进设备和专业人才，支持企业在材料科学、半导体和电子领域的研发与质量优化。
胜科纳米（苏州）股份有限公司
股份有限公司(非上市、自然人投资或控股)
￥3.6298亿
2012-08-17
李晓旻
chenjing@wintech-nano.com
中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09栋507室