霍尔测试
应用霍尔效应原理测试半导体材料特性，包括载流子浓度、迁移率和导电类型分析，支持新材料研发和质量控制。
晶圆级失效分析
在晶圆级别进行失效分析，使用探针台定位芯片缺陷和故障点，结合显微镜和信号检测技术，用于提高良率和优化设计。
光电器件测试
提供用于激光二极管、LED等光电器件的测试方案，涉及光电转换效率、波长和响应时间测量，支持研发和生产过程。
高低温测试
集成高低温环境舱的探针台系统，用于模拟极端温度条件（如-65°C至300°C），验证半导体器件在宽温范围内的运行可靠性。
MEMS测试
专为微电子机械系统（MEMS）提供定制测试设备，支持复杂传感器和致动器的性能检测，包括机械稳定性和响应特性分析。
高压/大电流测试
针对高电压（可达数千伏）和大电流（达数百安培）环境开发测试方案，适用于功率半导体（如IGBT）的可靠性和耐用性评估。
RF/mmW测试
提供射频（RF）和毫米波（mmW）频段测试解决方案，支持5G、雷达等高频应用的器件性能验证，包括S参数和噪声特性测试。
I-V/C-V测试
利用探针台系统执行电流-电压和电容-电压测试，用于半导体器件的电气特性分析，如漏电流、阈值电压和结电容测量。
融资次数
4
专利数量
85
经营范围
一般经营项目是：电子、机械、自动化、半导体产品、激光产品的技术研发与销售；国内贸易，货物及技术进出口。(法律、行政法规、国务院决定规定在登记前须经批准的项目除外），许可经营项目是：电子、机械、自动化、半导体产品、激光产品的生产。
主营业务
高性能晶圆探针台的研发、制造和销售，提供标准化与定制化测试方案，服务半导体行业的实验室和晶圆厂测试需求。
深圳市森美协尔科技有限公司
有限责任公司(自然人投资或控股)
￥1,449万
2010-11-05
刘世文
0755-85299649
alvin@semishare.com
深圳市宝安区福海街道塘尾社区荔园路翰宇湾区创新港4号楼三层