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CollTech热固化环氧胶EW-6755H8:电子封装领域的可靠性革新

发布者:德聚胶接
时间:2026-01-04
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底部填充材料介绍

在先进封装技术持续突破物理极限的背景下,一级底部填充胶作为芯片与基板或中介层之间的关键界面材料,直接关系到高密度异构集成器件的长期可靠性。面对2.5D/3D封装、Chiplet等先进架构,材料需在微米级间隙中实现无空洞填充,并同时应对因硅、玻璃、有机基板等多材料共存带来的复杂机械应力与热挑战。尤其在高速运算芯片(如HBM内存与逻辑芯片堆叠)、车载激光雷达核心模块、以及高性能GPU等应用中,一级底填胶必须在超细间距凸块(pitch<150μm)、极高I/O密度条件下,保障信号完整性并有效分散局部应力。

传统填充材料往往难以兼顾流动性与固化后的力学性能:填充速度不足易导致生产效率低下或空洞缺陷;而固化后模量过高或热膨胀系数(CTE)不匹配(如>40ppm/K),则会引入翘曲或使微凸点在温度循环中过早疲劳。

在FCBGA封装中,一级底部填充胶是关键材料。它被精准点涂于芯片与基板间的微隙,通过毛细作用快速填充,能完全包裹数千至上万个微焊球。用于补偿芯片与基板间的巨大热膨胀差异,将焊点承受的热机械应力降低60%以上,使封装在-55°C至150°C的严苛温度循环中,提升抗疲劳寿命,显著保障大尺寸、高密度芯片的长期可靠性。


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德聚解决方案

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德聚致力于成为解决行业痛点的材料应用专家,为客户打造高性能材料应用方案及高品质定制化服务。

CollTech推出的EW-6755H8系列一级底填胶,凭借创新的材料配方与结构设计,为客户提供了高可靠性的一级底填材料,EW-6755H8满足Copper Pillar 和Solder Bump的不同客户需求, 适合1*1mm~25*25mm的芯片尺寸需求, 可以用在FCCSP, FCBGA和模组的应用需求。

    一级底部填充胶 : 

  • EW-6755H8:

✔ 小尺寸间距的兼容性✔ 单组分易操作✔ 良好的作业性能✔ 较低的热膨胀系数✔ 优秀的可靠性


    技术亮点 : 

  • 多尺寸兼容:

低析出满足小尺寸的点胶设计满足80um copper pillar 的bump pitch满足110um的solder bump pitch
  • 长效可靠性保证:


  • 通过MSL3+TCB 1000的可靠性测试

  • 通过MSL3+UHAST96Hrs的可靠性测试

  • 通过MSL3+HTSL 1000Hrs的可靠性测试