联系我们
回到顶部

STS6200数字集成电路测试系统 首批设备完成交付 进入量产阶段

发布者：华峰测控
时间：2025-05-10
收藏
已收藏

  首批STS6200完成交付



NEW

STS6200数字集成电路测试系统，首批设备已完成客户交付，进入全面量产阶段。


此台全新升级的系统，最高支持200MHz速率下数字类芯片测试。

该系统以数字高速数字通道模块为核心，可提供百皮秒级精确的时序波形，可快速、精确、全面的对各类数字集成电路和存储器进行测试；主要测量和测试内容为被测器件的直流参数、动态功能及交流参数。

如需了解更多，欢迎与我们的销售人员联系：

荣毅   电话：+86-18611980488

李嘉豪  电话：+86-13693383291



  关于STS6200产品特点



UPDATE

  • 最高测试速率200MHz,存储深度128M。

  • 具备512通道高速数字管脚,支持48通道高压选配。

  • 百皮秒级定时边沿分辨率,提供精确的时序波形。

  • 内置Per Pin TMU单元,具备纳秒级时间参数测试能力。

  • 全新的矢量编辑软件,软件示波器调试功能。

  • 最高支持8个数字槽位,2个模拟槽位选配。

  • 丰富的模拟V源模块选配,提供四线开尔文测量模式。

  • 覆盖数字逻辑器件、大规模集成电路及接口电路测试。